Aktualności

Ultrawysoka rozdzielczość 512×512 (262144) punktów fazowych, zapewniająca precyzyjny pomiar czoła fali w paśmie od 900 nm do 1200 nm, która może być wykorzystywana do pomiaru aberracji układu optycznego, kalibracji układu optycznego, pomiaru rozkładu wewnętrznej siatki materiału, metapowierzchni, supersoczewek pomiar czoła fali itp.

Opracowany specjalnie do analizy czoła fali w scenariuszach szybkich badań przemysłowych, obronnych i naukowych, takich jak strzały w locie i pola przepływu, ma ultrawysoką rozdzielczość 420 × 420 (176400) punktów fazowych, szerokie spektrum odpowiedzi 400-1100 nm, oraz 107 klatek szybkiego próbkowania, co stanowi idealne narzędzie pomiarowe z czujnikiem czoła fali do wykrywania chropowatości powierzchni płytek, pomiaru mikromorfologii podłoża na bazie krzemu i szkła, optyki aerodynamicznej, pola przepływu o dużej prędkości, pomiar gęstości plazmy gazowej itp.

Zaprojektowana, aby pomóc w badaniach naukowych i precyzyjnych scenariuszach przemysłowych, wyższa rozdzielczość może zapewnić bardziej szczegółowe informacje w detekcji czoła fali, ultrawysoka rozdzielczość 512 × 512 (262144) punktów fazowych, szerokie spektrum odpowiedzi 400-1100 nm, 10 klatek pełnego obrazu Wyświetlanie wyników w czasie rzeczywistym w rozdzielczości 3D, zapewniające idealne narzędzia pomiarowe do wykrywania czoła fali do wykrywania czoła fali wiązki laserowej, optyki adaptacyjnej, pomiaru powierzchni płaskiej, kalibracji układu optycznego, okna optycznego detekcja, optyczny pomiar powierzchni sferycznej, wykrywanie chropowatości powierzchni, mikrokontur powierzchni itp.

Opracowany specjalnie do wygodnych pomiarów interferometrycznych w przemyśle, badaniach naukowych i obronie narodowej. Wysoka rozdzielczość 300 × 300 (90 000) punktów fazowych, szerokość widmowa 400–1100 nm, 10 klatek wyświetlania wyników 3D w czasie rzeczywistym w pełnej rozdzielczości, co stanowi idealne narzędzie pomiarowe z czujnikiem czoła fali do wykrywania czoła fali wiązki laserowej, optyki adaptacyjnej i układu optycznego kalibracja, wykrywanie okna optycznego, kształt powierzchni płaszczyzny optycznej, pomiar kształtu powierzchni sferycznej, chropowatość powierzchni, wykrywanie mikrokonturów powierzchni itp.