Zaprojektowany, aby wspierać badania naukowe ibardzo precyzyjne scenariusze przemysłowe, wyższa rozdzielczość może zapewnić bardziej szczegółowe informacje w detekcji czoła fali, bardzo wysoka rozdzielczość 512 × 512 (262144) punktów fazowych, szerokie spektrum odpowiedzi 400-1100 nm, 10 klatek wyświetlania wyników 3D w czasie rzeczywistym w pełnej rozdzielczości, zapewniające idealne wykrywanie czoła fali narzędzia pomiarowe do wykrywania czoła fali wiązki laserowej, optyki adaptacyjnej, pomiaru powierzchni płaskiej, kalibracji układu optycznego, optycznego wykrywania okna, optycznego pomiaru powierzchni sferycznej, wykrywania chropowatości powierzchni, powierzchni mikrokontur itp.
Ultrawysoka rozdzielczość FIS4-UHRczterofalowy czujnik interferometrycznywykorzystuje opatentowaną technologię kodowanej losowo dyfrakcji czterofalowej, aby uzyskać jednokanałową interferencję własną czoła fali, a interferencja pojawia się w pozycji tylnej płaszczyzny obrazu. Ma niskie wymagania co do spójności źródła światła i nie wymaga przesunięcia fazowego. Zwykłe systemy obrazowania umożliwiają pomiar zakłóceń. Ma bardzo wysoką odporność na wibracje i bardzo wysoką stabilność, a także może osiągnąć precyzyjny pomiar na poziomie nm bez izolacji wibracyjnej. W porównaniu z czujnikiem Hartmanna z matrycą mikrosoczewkową ma on więcej punktów fazowych, szerszy zakres pasma adaptacyjnego, większy zakres dynamiki i niższą cenę.
Główne cechy
◆ Bardzo wysoka rozdzielczość 512×512 (262144) punktów fazowych
◆ Samointerferencja światła jednościeżkowego, nie jest wymagane światło referencyjne
◆ Szerokie spektrum pasma 400nm ~ 1100nm
◆ Wysoka rozdzielczość fazowa 2 nm RMS
◆ Niezwykle duża odporność na wibracje, nie ma potrzeby stosowania optycznej izolacji drgań
◆ Prosta i szybka konstrukcja ścieżki optycznej, takiej jak obrazowanie
◆ Podpora wiązki skolimowanej, dużej wiązki zbieżnej NA
Zastosowanie produktu
Detekcja czoła fali wiązki laserowej, optyka adaptacyjna, pomiar powierzchni płaskiej, kalibracja układu optycznego, detekcja okna optycznego, płaszczyzna optyczna, pomiar powierzchni sferycznej, wykrywanie chropowatości powierzchni.
