FIS4 Ultra-Vish-Resolution Fallfront czujnik (wersja chłodnicza) 400-900 nm

FIS4 Ultra-Vish-Resolution Fallfront czujnik (wersja chłodnicza) 400-900 nm

BojiongFIS4 Ultra-Vigh-Resolution Favefront czujnik(rWersja efrigera) 400-900 nm, Opierając się na istniejącej serii UHR, integruje wysokowydajny układ chłodzenia półprzewodników, znacznie zmniejszając hałas termiczny czujnika w długoterminowej, wysokiej zawartości stawki. Wykorzystując punkty wykrywania fazy 512 × 512 ultra-wysokiej gęstości i precyzyjną kontrolę temperatury, utrzymuje stabilność pomiaru lepiej niż 1,5 nm RM w temperaturach otoczenia w zakresie od -10 ° C do 45 ° C, co jest szczególnie odpowiednie do wymagających zastosowań, takich jak detekcja lasera o dużej mocy, długoterminowe monitorowanie online i ultra-wiarygodność fali. Ultra-wysoka rozdzielczość czujnik front front FIS4 (wersja lodówka) 400-900NMSS Support 5 klatek/druga wyjście w czasie rzeczywistym wszystkich parametrów i funkcji analizy adaptacyjnej multi-pasmowej, zapewniając niezawodne wysokie dynamiczne wsparcie pomiarowe dla precyzyjnych optycznych badań naukowych i najnowocześniejszych badań naukowych.

BojiongFIS4 Ultra-Vish-Resolution Fallfront czujnik (wersja chłodnicza) 400-900 nm Wstęp

Bojiong FIS4 Ultra-Vish-Resolution Fallfront czujnik (wersja chłodnicza) 400-900 nmto nowy flagowy instrument pomiarowy naszej firmy, oferujący doskonałą wydajność i niezawodną jakość. Jest zgodny z Strict ISO 9001 System zarządzania jakością i jest certyfikowany przez China National Institute of Metrology (NIM) za identyfikowalność. Jest to roczna gwarancja, zapewniając dokładność i niezawodność danych pomiarowych. Ten czujnik wykorzystuje zastrzeżony interferometryczny układ optyczny i system rozkładu frontu falowego w czasie rzeczywistym, eliminując tradycyjne zmiany biegów i lusterki referencyjne. System ten działa stabilnie w środowiskach o wysokiej wibracji, umożliwiając pomiary czoła fali o wysokości 512 × 512. Przy ultra-wysokiej dokładności pomiaru 2 nM RMS, szeroki zakres dynamiczny ≥160 μm i wyjście 5-ramek/drugie w czasie rzeczywistym wszystkich parametrów, Abserations Fis-wysokie rozdzielczość (wersja chłodniowa) 400-900nmapcialelnie przekształcają zmiany transtrontowej frontu i wysokiego rzędu. .FIS4 Ultra-Vish-Resolution Fallfront czujnik (wersja chłodnicza) 400-900 nmma szeroko stosowanie do pomiaru fali fali laserowej, adaptacyjnej optyki, płaskiego pomiaru powierzchni, kalibracji układu optycznego, kontroli okien optycznej, optycznej sferycznej pomiaru powierzchni, kontroli chropowatości powierzchni i mikroprzewodności powierzchni.

Bojiong FIS4 Ultra-Vish-Resolution Fallfront czujnik (wersja chłodnicza) 400-900 nmParametr (specyfikacja)

Bojiong FIS4 Ultra-Vish-Resolution Fallfront czujnik (wersja chłodnicza) 400-900 nm Funkcja i aplikacja

Od 2006 r. Zespół profesora Yang Yongaing na Uniwersytecie Zhejiang od 17 lat pracuje nad projektowaniem interferometrii i rekonstrukcji Wavefront w czasie rzeczywistym. Zespół z powodzeniem uruchomił czujnik Wavefront Series FIS4 z szerokim spektrum, oznaczając poważny przełom w bardzo precyzyjnym polu wykrywania optycznym w moim kraju.

Tenultra- czujnik frontów fali o wysokiej rozdzielczości (wersja chłodnicza) Wykorzystuje innowacyjną architekturę jednoptyckiej ścieżki, eliminując potrzebę referencyjnej ścieżki optycznej lub zmiany zmiany biegów, umożliwiając prawdziwie wtyczkę. Jego wyjątkowa wydajność wykazano w wielu wymiarach: stabilna operacja bez platformy izolacyjnej wibracji, przechwytując dane o wysokiej precyzyjnej froncie w czasie rzeczywistym; Wysoka czułość 2 nM RMS i rozdzielczość 512 × 512 (262 144 punktów fazowych) umożliwia wyraźną wizualizację szczegółów mikroskopowych w badanym obiekcie; W kompaktowym pakiecie wielkości pięści ma szeroką odpowiedź spektralną 400-900 nm i zapewnia pełną rozdzielczość, wyświetlacz Wavefront w czasie rzeczywistym przy 5 klatkach na sekundę. Seria FIS4 została zaprojektowana do wymagania badań naukowych i precyzyjnych scenariuszy inspekcji przemysłowej. Może dokładnie obsługiwać wiele wysokiej klasy pól, takich jak analiza jakości wiązki laserowej, adaptacyjne debugowanie systemu optyki, płaszczyzny/sferyczny pomiar powierzchni komponentu optycznego, wyrównanie i kalibracja systemu optycznego, kontrola okien oraz chropowatość powierzchni i charakterystyka mikro-profila, zapewniające idealne narzędzie pomiaru rdzenia dla nowoczesnego pomiaru optycznego.

BojiongFIS4 Ultra-Vish-Resolution Fallfront czujnik (wersja chłodnicza) 400-900 nm Aplikacja

BojiongFIS4 Ultra-Vish-Resolution Fallfront czujnik (wersja chłodnicza) 400-900 nm Bliższe dane

.FIS4 Ultra-Vigh-Resolution WavefroNT czujnik (wersja chłodzona) 400-900 nmopiera się na unikalnej opatentowanej losowej kodowanej technologii dyfrakcji czterofrakowej, która może osiągnąć samookaleczenie z czoła fali na jednej ścieżce optycznej, a efekt zakłóceń powstaje bezpośrednio na tylnej płaszczyźnie obrazu. System ten znacząco zmniejsza zależność od spójności źródła światła i może zakończyć pomiar interferencji precyzyjnej w połączeniu z konwencjonalną jednostką obrazowania bez potrzeby zmiany zmiany biegów. .Czujnik FIS4 Frontfrontma doskonałą odporność na wibracje i stabilność operacyjną i może stabilnie osiągnąć pomiar frontu na poziomie nanometru nawet bez urządzenia izolacyjnego wibracji. W porównaniu z tradycyjnymi czujnikami Hartmanna typu macierzy mikrolensów, czujnik FIS4 Wavefront może zapewnić pobieranie próbek gęstszych punktów fazowych, szerszy zakres adaptacji spektralnej i wyższy górny limit pomiaru dynamicznego, zachowując bardziej konkurencyjną opłacalność,, co czyni go idealnym rozwiązaniem dla żądania optycznych scenariuszy pomiaru.

Ryc.

Ryc. 2. Rekonstrukcja frontu fali kwadratowej z czterech fali bocznych ścinania

.Czujnik FIS4 Frontfront, dzięki wysoce zintegrowanej konstrukcji, wyjątkowej adaptacji środowiska, doskonałej rozdzielczości czasowej i szerokiej kompatybilności systemu, stały się przełomową innowacją w metrologii optycznej. Produkt ten wykazuje nie tylko duży potencjał w badaniach naukowych, ale także zyskał wysokie uznanie w zastosowaniach przemysłowych. Początkowo używane do precyzyjnej kontroli w tradycyjnych warsztatach optycznych,Czujnik FIS4 Frontfrontz powodzeniem obsługiwał wyspecjalizowane pola, takie jak testowanie powierzchni komponentu optycznego, analiza jakości wiązki laserowej i kalibracja systemu optycznego adaptacyjnego. Jego zastosowanie rozszerzyło się teraz o najnowocześniejsze obszary badawcze, takie jak obrazowanie biomedyczne, śledzenie nanocząstek, charakterystyka struktury metasurface i monitorowanie pola temperatury, pokazując jego silne możliwości interdyscyplinarne.

Dzięki kompaktowej konstrukcji mechanicznej,Czujnik FIS4 FrontfrontMożna łatwo zintegrować z różnymi systemami obrazowania mikroskopii i złożonymi platformami optycznymi. Jego innowacyjna architektura, oparta na zasadzie interferometrii wspólnej ścieżki, umożliwia urządzeniu utrzymanie dokładności pomiaru na poziomie nanometru nawet w środowiskach o wysokiej wibracji, zapewniając stabilne działanie bez potrzeby dodatkowych urządzeń izolacyjnych wibracyjnych. Czujnik zawiera również rekonstrukcję frontu fali pojedynczej ekspozycji, umożliwiając dokładne wychwytywanie szybkich procesów dynamicznych, takich jak ruch płynu, przejściowe cząstki i transmisja laserowa, oraz zapewnia precyzyjną analizę ilościową.

W badaniach biomedycznych system FIS4 z powodzeniem osiągnął bez etykiety, długoterminowe, trójwymiarowe ilościowe obrazowanie fazowe różnych żywych komórek (w tym COS-7, HT1080, RPE, CHO, HEK i neurony pierwotne), znacznie zmniejszając fototoksyczność i zapewniając nowe techniczne podejście do dynamiki komórek. Możliwość obrazowania opóźnienia w systemie umożliwia również obrazowanie o wysokiej zawartości struktur dwójłomnych, takich jak włókna kolagenowe i cytoszkielet, znacznie rozwijając badania mechaniki i patologii tkanki.

W szczególnościCzujnik FIS4 FrontfrontArchitektura techniczna wykazuje znaczną skalowalność pasmowa. Jego zasady projektowania zostały z powodzeniem zastosowane do opracowywania systemów obrazowania fazowego w prześwietleniu, podczerwieni w podczerwieni w połowie fal (MWIR) i długich fal podczerwieni (LWIR), zapewniając innowacyjne rozwiązania pomiarowe dla nauk o materiałach, zarządzanie termicznie i bezpieczeństwo obrony narodowej. W ostatnich latach czujnik stwierdził również powszechne zastosowanie w pojawiających się dziedzinach, takich jak ocena manipulacji fazą metasurface i charakterystyka właściwości optycznych materiałów dwuwymiarowych, wykazując jego znaczącą wartość i szerokie zastosowanie jako podstawowe narzędzie badawcze.