Wysoka rozdzielczość i szeroki zakres długości fal czterofalowego czujnika interferometrycznego bliskiej podczerwieni BOJIONG sprawiają, że jest to idealny wybór do badań naukowych i zastosowań przemysłowych, szczególnie w sytuacjach wymagających precyzyjnych pomiarów i analiz. Czujnik umożliwia bardzo precyzyjny pomiar czoła fali w zakresie długości fali od 900 nm do 1200 nm, z rozdzielczością 512 × 512 pikseli (łącznie 262 144 punktów fazowych). Jego konstrukcja uwzględnia potrzebę antywibracji i stabilności w praktycznych zastosowaniach, umożliwiając bardzo precyzyjne pomiary bez konieczności kompleksowej kontroli środowiska. Znacząco upraszcza to proces obsługi i poprawia efektywność pomiaru.
Nazwa produktu |
Czterofalowy czujnik interferometryczny bliskiej podczerwieni |
Zakres długości fali |
900 nm ~ 1200 nm |
Rozmiar docelowy |
13,3 mm × 13,3 mm |
Rozkład przestrzenny |
26μm |
Rozdzielczość próbkowania |
512×512 (262144 pikseli) |
Rozdzielczość fazowa |
<2nmRMS |
Absolutna dokładność |
15nmRMS |
Zakres dynamiczny |
270μm (256min) |
Częstotliwość próbkowania |
45 klatek na sekundę |
Szybkość przetwarzania w czasie rzeczywistym |
10 Hz (pełna rozdzielczość) |
Typ interfejsu |
USB3.0 |
Wymiar |
70 mm × 46,5 mm × 68,5 mm |
Waga |
około 240g |
◆Bardzo wysoka rozdzielczość 512×512 (262144) punktów fazowych
◆Szerokie spektrum pasma 900nm ~ 1200nm
◆Własna interferencja światła jednokanałowego, nie jest wymagane światło referencyjne
◆2nm RMS, wysoka rozdzielczość fazowa
◆Duży zakres dynamiki do 270μm
◆Podobnie jak obrazowanie, łatwa i szybka konstrukcja ścieżki optycznej
◆Niezwykle silne działanie antywibracyjne, nie ma potrzeby stosowania optycznej izolacji drgań
◆Obsługuje wiązki kolimowane i duże wiązki zbieżne NA
Ten czterofalowy czujnik interferometryczny bliskiej podczerwieni BOJIONG stosowany w pomiarach aberracji układu optycznego, kalibracji układu optycznego, pomiarze rozkładu wewnętrznej siatki materiału, hiperpowierzchni, pomiarze czoła fali hipersoczewkowej
Przykład pomiaru aberracji układu optycznego |
Przykładowy pomiar rozkładu sieci wewnątrz materiału |
Przykłady pomiarów kalibracji układu optycznego |
Przykład pomiaru czoła fali metapowierzchniowej
|
Przykład pomiaru czoła fali hipersoczewkowej
|
|
Czterofalowy czujnik interferometryczny wysokiej rozdzielczości BOJIONG opracowany przez zespół profesorów z Uniwersytetu Zhejiang i Uniwersytetu Technologicznego Nanyang w Singapurze, z opatentowaną technologią krajową, łączy dyfrakcję i interferencję, aby uzyskać wspólną czterofalową interferencję poprzecznego ścinania, z doskonałą czułością wykrywania i działanie antywibracyjne i może realizować szybką interferometrię dynamiczną w czasie rzeczywistym bez izolacji wibracyjnej. Pomiar w czasie rzeczywistym pokazuje liczbę klatek na sekundę większą niż 10 klatek.
Jednocześnie czujnik FIS4 charakteryzuje się ultrawysoką rozdzielczością fazową wynoszącą 512×512 (260 000 punktów fazowych), pasmo pomiarowe obejmuje 200nm~15μm, czułość pomiaru sięga 2nm, a powtarzalność pomiaru jest lepsza niż 1/1000λ ( RMS). Może być stosowany do analizy jakości wiązki laserowej, wykrywania pola przepływu plazmy, pomiaru w czasie rzeczywistym rozkładu pola przepływu o dużej prędkości, oceny jakości obrazu układu optycznego, mikroskopowego pomiaru profilu i ilościowego obrazowania fazowego komórek biologicznych.
FIS4 Parametry techniczne poszczególnych serii wyrobów |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
Produkt |
FIS4-UV |
FIS4-HR |
ZEGAR FIS4 |
FIS4-HS |
Komórka FIS4 |
FIS4-NIR |
Zakres długości fali |
200 ~ 450 nm |
400 ~ 1100 nm |
400 ~ 1100 nm |
400 ~ 1100 nm |
400 ~ 1100 nm |
900 ~ 1200 nm |
Rozmiar docelowy mm² |
13,3 × 13,3 |
7,07 × 7,07 |
13,3 × 13,3 |
10,24×10,24 |
7,07 × 7,07 |
13,3 × 13,3 |
Rozkład przestrzenny |
26μm |
23,6μm |
26μm |
24,4μm |
23,6μm |
26μm |
Piksel obrazu |
- |
2048×2048 |
- |
- |
2048×2048 |
- |
Rozdzielczość wyjścia fazowego |
512×512 (262144 pikseli) |
300×300 (90000 pikseli) |
512×512 (262144 pikseli) |
420×420 (176400 pikseli) |
300×300 (90000 pikseli) |
512×512 (262144 pikseli) |
Rozdzielczość fazowa |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
Absolutna dokładność |
10nmRMS |
10nmRMS |
15nmRMS |
10nmRMS |
10nmRMS |
15nmRMS |
Zakres dynamiczny |
90μm (256min) |
110μm (150min) |
162μm (256min) |
132μm (210min) |
110μm (150min) |
270μm (256min) |
Częstotliwość próbkowania |
32 klatki na sekundę |
24 klatki na sekundę |
45 klatek na sekundę |
107 kl./s |
24 klatki na sekundę |
45 klatek na sekundę |
Szybkość przetwarzania w czasie rzeczywistym |
10 Hz (Pełna rozdzielczość) |
10 Hz (Pełna rozdzielczość) |
10 Hz (Pełna rozdzielczość) |
10 Hz (Pełna rozdzielczość) Obsługuje opóźnione przetwarzanie wsadowe |
10 Hz (Pełna rozdzielczość) |
10 Hz (Pełna rozdzielczość) |
Typ interfejsu |
USB3.0 |
SIEKAĆ |
USB3.0 |
SIEKAĆ |
SIEKAĆ |
USB3.0 |
Interfejs zewnętrzny |
- |
- |
- |
- |
portu C |
- |
Rozmiar mm² |
70x46,5x68,5 |
56,5x43x41,5 |
70x46,5x68,5 |
56,5x43x41,5 |
56,5x43x41,5 |
70x46,5x68,5 |
waga |
około 240g |
około 120g |
około 240g |
około 120g |
około 120g |
około 240g |
Adres
Nr 578 Yingkou Road, dzielnica Yangpu, Szanghaj, Chiny
Tel