NIR Ekonomiczny czujnik czoła fali

BOJIONG NIR Ekonomiczny czujnik czoła fali łączy opatentowaną technologię losowo kodowanej dyfrakcji czterofalowej z kamerą na podczerwień, umożliwiając interferencję w położeniu tylnej płaszczyzny obrazu. Taka konfiguracja umożliwia standardowym systemom obrazowania wykonywanie pomiarów zakłóceń z wyjątkową odpornością na wibracje i stabilnością, osiągając precyzję na poziomie nanometrów bez konieczności izolacji drgań. Czujnik wymaga minimalnej spójności ze źródłem światła i eliminuje potrzebę przesunięcia fazowego.

Specyfikacja przedmiotu

Cecha czterofalowego czujnika interferometrycznego bliskiej podczerwieni BOJIONG

◆Bardzo wysoka rozdzielczość 512×512 (262144) punktów fazowych

◆Szerokie spektrum pasma 900nm ~ 1200nm

◆Własna interferencja światła jednokanałowego, nie jest wymagane światło referencyjne

◆2nm RMS, wysoka rozdzielczość fazowa

◆Duży zakres dynamiki do 270μm

◆Podobnie jak obrazowanie, łatwa i szybka konstrukcja ścieżki optycznej

◆Niezwykle silne działanie antywibracyjne, nie ma potrzeby stosowania optycznej izolacji drgań

◆Obsługuje wiązki kolimowane i duże wiązki zbieżne NA

Zastosowanie czterofalowego czujnika interferometrycznego bliskiej podczerwieni BOJIONG

Ten czterofalowy czujnik interferometryczny bliskiej podczerwieni BOJIONG stosowany w pomiarach aberracji układu optycznego, kalibracji układu optycznego, pomiarze rozkładu wewnętrznej siatki materiału, hiperpowierzchni, pomiarze czoła fali hipersoczewkowej

Szczegóły czterofalowego czujnika interferometrycznego o wysokiej rozdzielczości

BOJIONG NIR Ekonomiczny czujnik czoła fali, będący owocem współpracy profesorów z Uniwersytetu Zhejiang i Uniwersytetu Technologicznego Nanyang w Singapurze, wykorzystuje opatentowaną w kraju technologię, która ujednolica dyfrakcję i zakłócenia w celu uzyskania standardowej czterofalowej interferencji poprzecznego ścinania. Czujnik ten wyróżnia się czułością wykrywania i właściwościami antywibracyjnymi, umożliwiając szybką interferometrię dynamiczną w czasie rzeczywistym bez konieczności izolacji wibracyjnej, z częstotliwością odświeżania przekraczającą 10 klatek dla pomiarów w czasie rzeczywistym.

Co więcej, czujnik FIS4 w tej konfiguracji obejmuje zakres pomiarowy od 200 nanometrów do 15 mikrometrów, charakteryzuje się bardzo wysoką rozdzielczością fazową 512×512 (260 000 punktów fazowych), powtarzalnością pomiarów wyższą niż 1/1000 λ (RMS) i czułością o wielkości 2 nanometrów. Jest wszechstronny w zastosowaniach obejmujących analizę jakości wiązki laserowej, wykrywanie pola przepływu plazmy, szybki pomiar rozkładu pola przepływu w czasie rzeczywistym, ocenę jakości obrazu układu optycznego, mikroskopowy pomiar profilu i ilościowe obrazowanie fazowe komórek biologicznych.