Czujnik czoła fali bliskiej podczerwieni

Czujnik czoła fali bliskiej podczerwieni z imponującym zakresem dynamiki do 270 μm. Charakteryzuje się wyjątkową odpornością na wibracje i stabilnością, umożliwiając precyzyjne pomiary na poziomie nanometrów bez konieczności stosowania izolacji wibracyjnej. Przyrząd ten nadaje się do pomiaru wewnętrznego rozkładu materiałów w siatce, a także do pomiarów czoła fali dla metapowierzchni i hipersoczewek. Zawsze będziemy kierować się zasadą „najpierw jakość, najpierw klient” i serdecznie zapraszamy klientów do odwiedzenia nas w celu konsultacji.

Specyfikacja przedmiotu:

Cecha czujnika czoła fali bliskiej podczerwieni BOJIONG

◆Duży zakres dynamiki do 270μm

◆2nm RMS, wysoka rozdzielczość fazowa

◆Bardzo wysoka rozdzielczość 512×512 (262144) punktów fazowych

◆Własna interferencja światła jednokanałowego, nie jest wymagane światło referencyjne

◆Szerokie spektrum pasma 900nm ~ 1200nm

◆Niezwykle silne działanie antywibracyjne, nie ma potrzeby stosowania optycznej izolacji drgań

◆Podobnie jak obrazowanie, łatwa i szybka konstrukcja ścieżki optycznej

◆Obsługuje wiązki kolimowane i duże wiązki zbieżne NA

 Zastosowanie czujnika czoła fali bliskiej podczerwieni BOJIONG

Ten czujnik czoła fali bliskiej podczerwieni BOJIONG stosowany w pomiarze aberracji układu optycznego, kalibracji układu optycznego, pomiarze rozkładu wewnętrznej siatki materiału, hiperpowierzchni, pomiarze czoła fali hipersoczewkowej

Szczegóły czujnika czoła fali bliskiej podczerwieni BOJIONG

Czujnik czoła fali bliskiej podczerwieni BOJIONG opracowany przez zespół profesorów z Uniwersytetu Zhejiang i Uniwersytetu Technologicznego Nanyang w Singapurze, z opatentowaną technologią krajową, łączy dyfrakcję i interferencję, aby uzyskać wspólną czterofalową interferencję poprzecznego ścinania, z doskonałą czułością wykrywania i anty- wydajność wibracji i może realizować szybką interferometrię dynamiczną w czasie rzeczywistym bez izolacji wibracyjnej. Pomiar w czasie rzeczywistym pokazuje liczbę klatek na sekundę większą niż 10 klatek. Jednocześnie czujnik FIS4 charakteryzuje się ultrawysoką rozdzielczością fazową wynoszącą 512×512 (260 000 punktów fazowych), pasmo pomiarowe obejmuje 200nm~15μm, czułość pomiaru sięga 2nm, a powtarzalność pomiaru jest lepsza niż 1/1000λ ( RMS). Może być stosowany do analizy jakości wiązki laserowej, wykrywania pola przepływu plazmy, pomiaru w czasie rzeczywistym rozkładu pola przepływu o dużej prędkości, oceny jakości obrazu układu optycznego, mikroskopowego pomiaru profilu i ilościowego obrazowania fazowego komórek biologicznych.