Ten analizator czoła fali ultrafioletowej o rozdzielczości 512 × 512 pikseli (262 144 punktów fazowych) jest w stanie wykonywać pomiary interferencji w tylnej płaszczyźnie ogniskowej. Technologia wymaga od źródła światła niskiego poziomu koherencji i eliminuje potrzebę przesunięcia fazowego. Dzięki systemowi obrazowania ultrafioletowego urządzenie może dokonywać pomiarów czoła fali w czasie rzeczywistym. Charakteryzuje się wyjątkową odpornością na wibracje i stabilnością, umożliwiając dokładność pomiaru na poziomie nanometrów bez konieczności stosowania urządzeń izolujących drgania.
|
Nazwa produktu |
Analizator czoła fali ultrafioletowej |
|
Zakres długości fali |
200 nm ~ 450 nm |
|
Rozmiar docelowy |
13,3 mm × 13,3 mm |
|
Rozkład przestrzenny |
26μm |
|
Rozdzielczość próbkowania |
512×512 (262144 pikseli) |
|
Rozdzielczość fazowa |
＜2nmRMS |
|
Absolutna dokładność |
10nmRMS |
|
Zakres dynamiczny |
90μm (256min) |
|
Częstotliwość próbkowania |
32 klatki na sekundę |
|
Szybkość przetwarzania w czasie rzeczywistym |
10 Hz (pełna rozdzielczość) |
|
Typ interfejsu |
USB3.0 |
|
Wymiar |
70 mm × 46,5 mm × 68,5 mm |
|
Waga |
około 240g |
◆2nm RMS, wysoka rozdzielczość fazowa
◆Widmo UV, pasmo 200nm ~ 450nm
◆Bardzo wysoka rozdzielczość 512×512 (262144) punktów fazowych
◆Własna interferencja światła jednokanałowego, nie jest wymagane światło referencyjne
◆Niezwykle silne działanie antywibracyjne, nie ma potrzeby stosowania optycznej izolacji drgań
◆Podobnie jak obrazowanie, łatwa i szybka konstrukcja ścieżki optycznej
◆Obsługuje wiązki kolimowane i niekolimowane wiązki o wysokim NA
Ten analizator czoła fali ultrafioletowej BOJIONG służy do pomiaru aberracji układu optycznego, kalibracji układu optycznego, pomiaru kształtu powierzchni płaskiej (wafla), pomiaru kształtu optycznej powierzchni sferycznej itp.
|
Detekcja czoła fali wiązki laserowej |
Reakcja na wykrywanie czoła fali w trybie optyki adaptacyjnej Zernike |
|
Przykład pomiaru aberracji układu optycznego |
Przykłady pomiarów kalibracji układu optycznego |
|
Przykład pomiaru chropowatości powierzchni płytki |
Pomiar morfologii metodą mikrotrawienia - próbka defektu 1 # -114 linii |
Analizator czoła fali ultrafioletowej BOJIONG opracowany przez zespół profesorów z Uniwersytetu Zhejiang i Uniwersytetu Technologicznego Nanyang w Singapurze, z opatentowaną technologią krajową, łączy dyfrakcję i interferencję, aby uzyskać wspólną czterofalową interferencję poprzecznego ścinania, z doskonałą czułością wykrywania i działaniem antywibracyjnym i może realizować szybką interferometrię dynamiczną w czasie rzeczywistym bez izolacji wibracyjnej. Pomiar w czasie rzeczywistym pokazuje liczbę klatek na sekundę większą niż 10 klatek. Jednocześnie czujnik FIS4 charakteryzuje się ultrawysoką rozdzielczością fazową wynoszącą 512×512 (260 000 punktów fazowych), pasmo pomiarowe obejmuje 200nm~15μm, czułość pomiaru sięga 2nm, a powtarzalność pomiaru jest lepsza niż 1/1000λ ( RMS). Może być stosowany do analizy jakości wiązki laserowej, wykrywania pola przepływu plazmy, pomiaru w czasie rzeczywistym rozkładu pola przepływu o dużej prędkości, oceny jakości obrazu układu optycznego, mikroskopowego pomiaru profilu i ilościowego obrazowania fazowego komórek biologicznych.
|
FIS4 Parametry techniczne poszczególnych serii wyrobów |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Produkt |
FIS4-UV |
FIS4-HR |
ZEGAR FIS4 |
FIS4-HS |
Komórka FIS4 |
FIS4-NIR |
|
Zakres długości fali |
200 ~ 450 nm |
400 ~ 1100 nm |
400 ~ 1100 nm |
400 ~ 1100 nm |
400 ~ 1100 nm |
900 ~ 1200 nm |
|
Rozmiar docelowy mm² |
13,3 × 13,3 |
7,07 × 7,07 |
13,3 × 13,3 |
10,24×10,24 |
7,07 × 7,07 |
13,3 × 13,3 |
|
Rozkład przestrzenny |
26μm |
23,6μm |
26μm |
24,4μm |
23,6μm |
26μm |
|
Piksel obrazu |
- |
2048×2048 |
- |
- |
2048×2048 |
- |
|
Rozdzielczość wyjścia fazowego |
512×512 （262144 pikseli） |
300×300 (90000 pikseli) |
512×512 (262144 pikseli) |
420×420 (176400 pikseli) |
300×300 (90000 pikseli) |
512×512 (262144 pikseli) |
|
Rozdzielczość fazowa |
＜2nmRMS |
＜2nmRMS |
＜2nmRMS |
＜2nmRMS |
＜2nmRMS |
＜2nmRMS |
|
Absolutna dokładność |
10nmRMS |
10nmRMS |
15nmRMS |
10nmRMS |
10nmRMS |
15nmRMS |
|
Zakres dynamiczny |
90μm （256min） |
110μm （150min） |
162μm （256min） |
132μm （210min） |
110μm （150min） |
270μm （256min） |
|
Częstotliwość próbkowania |
32 klatki na sekundę |
24 klatki na sekundę |
45 klatek na sekundę |
107 kl./s |
24 klatki na sekundę |
45 klatek na sekundę |
|
Szybkość przetwarzania w czasie rzeczywistym |
10 Hz (Pełna rozdzielczość) |
10 Hz (Pełna rozdzielczość) |
10 Hz (Pełna rozdzielczość) |
10 Hz (Pełna rozdzielczość) Obsługuje opóźnione przetwarzanie wsadowe |
10 Hz (Pełna rozdzielczość) |
10 Hz (Pełna rozdzielczość) |
|
Typ interfejsu |
USB3.0 |
SIEKAĆ |
USB3.0 |
SIEKAĆ |
SIEKAĆ |
USB3.0 |
|
Interfejs zewnętrzny |
- |
- |
- |
- |
portu C |
- |
|
Rozmiar mm² |
70x46,5x68,5 |
56,5x43x41,5 |
70x46,5x68,5 |
56,5x43x41,5 |
56,5x43x41,5 |
70x46,5x68,5 |
|
waga |
około 240g |
około 120g |
około 240g |
około 120g |
około 120g |
około 240g |
Adres
Nr 578 Yingkou Road, dzielnica Yangpu, Szanghaj, Chiny
Tel
